天線測試簡介

一般來說，工程實踐中我們常見的天線測試主要分為以下幾類：

近場測試

所謂近場天線測試的近場是指從測試探頭到被測天線口平面的距離約為3λ 5λ. 符合這樣條件的天線測試即為近場測試.
近場天線測試系統主要由這麼幾部分組成：
1. 多軸掃描架子系統（包括控制磁碟機及電纜組件）。 
2. 被測天線定位子系統， 通常由一個單軸或多軸轉檯，控制磁碟機及電纜組件組成。
3. 射頻子系統，包括髮射源，接收機及射頻電纜組件。
4. 系統主控器及一個負責給掃描架及轉檯子系統發定位指令，採集測試資料，近遠場變換計算和分析測試結果的系統軟體。
每個天線測試應用都有自己的獨立特點，而我們提供的近場天線測試系統也有很多不同規格的選擇。具體的系統需要根據使用者的具體情況進行配置。

遠場測試

所謂遠場天線測試的遠場就是指符合r=2D2/λ條件的天線測試, 其中 r 就是測試場的收發間距離, D 就是被測天線的最大口徑,而 λ 測試頻率的波長.
遠場天線測試系統主要由這麼幾部分組成;
1. 接收端單軸或多軸轉檯子系統（包括控制磁碟機及電纜組件）。 
2. 發射子系統， 通常由一個單軸轉檯，控制磁碟機及電纜組件組成。 
3. 射頻子系統，包括髮射源，接收機及射頻電纜組件。
4. 系統主控器及一個負責給轉檯子系統發定位指令，採集測試資料和分析測試結果的系統軟體。
每個天線測試應用都有自己的獨立特點，而我們提供的遠場天線測試系統也有很多不同規格的選擇。具體的系統需要根據使用者的具體情況進行配置。

緊縮場測試

緊縮場天線測試的緊縮場意思是指在一個相對小(緊縮)的空間裡產生出傳統遠場天線測試所需要的平面波. 產生這種一致性很好的平面波的裝置就需要在有限空間裡增設雙曲反射面來延伸輻射空間.
緊縮場天線測試系統主要由這麼幾部分組成;
1. 被測天線的單軸或多軸轉檯子系統（包括控制磁碟機及電纜組件）。 
2. 饋源子系統， 通常由一個單軸或多軸轉檯，控制磁碟機及電纜組件組成。 
3. 雙曲單反射面或雙曲雙反射面，用於在有限空間裡產生符合遠場測試條件的平面波。
4.射頻子系統，包括髮射源，接收機及射頻電纜組件。
5. 系統主控器及一個負責給轉檯子系統發定位指令，採集測試資料和分析測試結果的系統軟體。
每個天線測試應用都有自己的獨立特點，而我們提供的緊縮場天線測試系統也有很多不同規格的選擇。具體的系統需要根據使用者的具體情況進行配置。

天線罩測試

對天線罩進行測試其目的就是為了找出天線罩的電氣特性,譬如天線罩的瞄準誤差和天線罩透波率.
天線罩測試系統主要由這麼幾部分組成;
1. 特殊的多軸轉檯子系統（包括控制磁碟機及電纜組件）。 
2. 尋零器掃描架子系統， 通常是一個小型的多軸掃描架，控制磁碟機及電纜組件組成。 
3. 射頻子系統，包括髮射源，接收機及射頻電纜組件。
4. 系統主控器及一個負責給轉檯子系統發定位指令，採集測試資料和分析測試結果的系統軟體。
每個天線測試應用都有自己的獨立特點，而我們提供的天線罩測試系統也有很多不同規格的選擇。具體的系統需要根據使用者的具體情況進行配置。