1 JTAG(Joint Test Action Group;聯合測試行動小組)是一種國際標準測試協議(IEEE 1149.1相容),主要用於晶片自我裝載。現在多數的進階器件都支援JTAG協議,如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG介面是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、資料輸入和資料輸出線。
JTAG最初是用來對晶片進行測試的,JTAG的基本原理是在器件內部定義一個TAP(Test Access Port;測試訪問口)通過專用的JTAG測試載入器對進行內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG介面串聯在一起,形成一個JTAG鏈,能實現對各個器件分別測試。現在,JTAG介面還常用於實現ISP(In-System Programmable�線上編程),對FLASH等器件進行編程。
JTAG編程方式是線上編程,傳統生產流程中先對晶片進行預編程現再裝到板上因此而改變,簡化的流程為先固定器件到電路板上,再用JTAG編程,從而大大加快工程進度。JTAG介面可對PSD晶片內部的所有組件進行編程
具有JTAG口的晶片都有如下JTAG引腳定義:
TCK——測試時鐘輸入;
TDI——測試資料輸入,資料通過TDI輸入JTAG口;
TDO——測試資料輸出,資料通過TDO從JTAG口輸出;
TMS——測試模式選擇,TMS用來設定JTAG口處於某種特定的測試模式。
可選引腳TRST——測試複位,輸入引腳,低電平有效。
含有JTAG口的晶片種類較多,如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG內部有一個狀態機器,稱為TAP控制器。TAP控制器的狀態機器通過TCK和TMS進行狀態的改變,實現資料和指令的輸入。圖1為TAP控制器的狀態機器框圖。
2 JTAG晶片的邊界掃描寄存器
JTAG標準定義了一個串列的移位寄存器。寄存器的每一個單元分配給IC晶片的相應引腳,每一個獨立的單元稱為BSC(Boundary-Scan Cell)邊界掃描單元。這個串聯的BSC在IC內部構成JTAG迴路,所有的BSR(Boundary-Scan Register)邊界掃描寄存器通過JTAG測試啟用,平時這些引腳保持正常的IC功能。圖2為具有JTAG口的IC內部BSR單元與引腳的關係。
3 JTAG線上寫Flash的硬體電路設計和與PC的串連方式
以含JTAG介面的StrongARM SA1110為例,Flash為Intel 28F128J32 16MB容量。SA1110的JTAG的TCK、TDI、TMS、TDO分別接PC並口的2、3、4、11線上,通過程式將對JTAG口的控制指令和目標代碼從PC的並口寫入JTAG的BSR中。在設計PCB時,必須將SA1110的資料線和地址線及控制線與Flash的地線線、資料線和控制線相連。因SA1110的資料線、地址線及控制線的引腳上都有其相應BSC,只要用JTAG指令將資料、地址及控制訊號送到其BSC中,就可通過BSC對應的引腳將訊號送給Flash,實現對Flash的操作。JTAG的系統板設計和連線關係3所示。
4 通過使用TAP狀態機器的指令實行對Flash的操作
通過TCK、TMS的設定,可將JTAG設定為接收指令或資料狀態。JTAG常用指令如下:
SAMPLE/PRELOAD——用此指令採樣BSC內容或將資料寫入BSC單元;
EXTEST——當執行此指令時,BSC的內容通過引腳送到其串連的相應晶片的引腳,我們就是通過這種指令實現線上寫Flash的;
BYPASS——此指令將一個一位寄存器軒於BSC的移位迴路中,即僅有一個一位寄存器處於TDI和TDO之間。
在PCB電路設計好後,即可用程式先將對JTAG的控制指令,通過TDI送入JTAG控制器的指令寄存器中。再通過TDI將要寫Flash的地址、資料及控制線訊號入BSR中,並將資料鎖存到BSC中,用EXTEST指令通過BSC將寫入Flash。
5 軟體編程
線上寫Flash的程式用Turbo C編寫。程式使用PC的並行口,將程式通過含有JTAG的晶片寫入Flash晶片。程式先對PC的並口初始化,對JTAG口複位和測試,並讀Flash,判斷是否加鎖。如加鎖,必須先解鎖,方可進行操作。寫Flash之前,必須對其先擦除。將JTAG晶片設定在EXTEST模式,通過PC的並口,將目標檔案通過JTAG寫入Flash,並在燒寫完成後進行校正。程式主流程4所示。
通過JTAG的讀晶片ID子程式如下:
void id_command(void){
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle;使JTAG複位
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,1,IP);
putp(1,1,IP); //選擇指令寄存器
putp(1,0,IP); //捕獲指令寄存器
putp(1,0,IP); /移位指令寄存器
putp(0,0,IP); //SA1110JTAG口指令長度5位,IDCODE為01100
putp(1,0,IP);
putp(1,0,IP);
putp(0,0,IP);
putp(0,0,IP);
putp(0,1,IP); //退出指令寄存器
putp(1,1,IP); //更新指令寄存器,執行指令寄存器中的指令
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,1,IP);
putp(1,0,IP);
if(check_id(SA1110ID))
error_out("failed to read device ID for the SA-1110");
putp(1,1,IP); //退出資料寄存器
putp(1,1,IP); //更新資料寄存器
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle,使JTAG複位
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle
}
6 電路設計和編程中的注意事項
①Flash晶片的WE、CE、OE等控制線必須與SA1110的BSR相連。只有這樣,才能通過BSR控制Flash的相應引腳。
②JTAG口與PC並口的連接線要盡量短,原則上不大於15cm。
③Flash在擦寫和編程時所需的工作電流較大,在選用系統的供電晶片時,必須加以考慮。
④為提高對Flash的編程速度,盡量使TCK不低於6MHz,可編寫燒寫Flash程式時實現。
(來源:嵌入式線上論壇)