記憶體晶片測量方法

 　　一、用萬用表測量記憶體晶片的方法

　　在主板與記憶體的資料引腳是64個，D0-D63，為了保護記憶體的資料位元腳，在D0-D63這64個資料位元腳都加有一個阻值不大的電阻起限流作用。而測試儀主要的原理是用程式重複測試記憶體晶片的每個資料位元引腳，看有沒有擊穿或短路的資料位元引腳，還有就是晶片的時鐘引腳、地址引腳。所以用萬用表測試晶片時也可用測試儀的方法來測，只要紅筆對地，黑筆測量排陰阻的阻值，就是記憶體晶片資料位元的阻值來判斷是哪個晶片壞了，正常的話每個資料位元阻值相同。但還是沒有測試儀那麼直觀，用這種方法可測量DDR記憶體晶片的好壞。

　　二、 用測試儀測量記憶體晶片方法

　　根據使用說明書，測量的記憶體在2A、2B這裡，指單組和雙組的意思。但16位的晶片有8個，也相當於是兩組，8位的晶片有16個也相當於兩組。

　　2A為第二組，2B為第一組。

　　測量時會迴圈測試每一組中的每一個晶片的資料位元腳。一般測了3次—5次沒壞就是好的。好的晶片為：PA 。壞的晶片就顯示出壞的資料位元引腳。

　　1、 開機跳不進測試，一般有：晶片短路、PCB板短路。解決方案為把晶片拆下來換到好的PCB板上試晶片好壞。

　　2、 記憶體測試儀不測試 D晶片， D晶片可有可無。

　　3、 金手指燒了的話也不能測試，必須把晶片拆下換到好的PCB板上試晶片好。