記憶體晶片的主要的參數

來源:互聯網
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1.CAS (Column Address Strobe,列地址選通訊號),準確的說應該是CL(CAS Latency,縱列存取延遲時間),它用刻度數表示。在某一固定外頻下,其數值越小越好,一般為2個刻度。另外還有RAS(Row Address Strobe,行地址選通訊號),它和CAS一起確定其它裝置在記憶體中的訪問地址。
  2.tAC資料存取時間。一般是6ns或6.5ns,其值越小越好。
  3.tRCDRAS相對於CAS的延時。以刻度數表示,一般為2。
  4.tRPRAS預充電時間。以刻度數表示,一般為2。
  5.tCLK刻度。PC100不大於10ns,PC133不大於7.5ns。tCLK決定記憶體晶片的額定最高工作頻率。額定最高工作頻率=1000/tCLK,如:tCLK=10ns,則額定最高工作頻率=100MHz。
  6.Burst Cycle Time突發周期時間。不大於8ns。
  7.SPD(Serial Presence Detect)是一顆焊於電路板上的8針、256位元組的EEPROM晶片,面積4mm×3mm,型號多為24LC01B。其內部記錄著記憶體的速度、容量、行/列地址、電壓等基本參數。如果主板支援SPD,開機時BIOS將讀取SPD內的資訊,保證系統的穩定。SPD是識別PC100及PC133記憶體的一個重要標誌。
  按以上參數,最差的PC100記憶體晶片應該是tAC=6ns,tCLK=10ns,tRCD=20ns,tRP=20ns,突發周期=8ns。由於Intel公司及威盛電子都沒有定義標記PC100及PC133記憶體的方法,所以各晶片廠商用自己的方法標記記憶體晶片。而一些廠商將突發周期數印在晶片上,甚至是將tAC值印在晶片上,又不加特殊說明,造成市場上出現了眾多的“8ns”、“6ns”記憶體條,使JS有機可乘,也導致DIYer們被誤導。 

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